IEC PAS 60512-27-200, Phiên bản đầu tiên, tháng 10 năm 2018 – Đầu nối cho thiết bị điện và điện tử – Thử nghiệm và đo lường – Phần 27-200: Thông số kỹ thuật bổ sung cho thử nghiệm tính toàn vẹn của tín hiệu lên đến 2 000 MHz trên đầu nối loạt IEC 60603-7 – Thử nghiệm 27a đến 27g

Phần này của IEC 60512 bao gồm các thông số kỹ thuật bổ sung, bổ sung cho các phương pháp thử nghiệm tính toàn vẹn của tín hiệu và hiệu suất truyền của IEC 60512-27-100, đối với các đầu nối sử dụng phép đo xuyên âm được coi là, được quy định trong các phần tương ứng của tiêu chuẩn IEC 60603-7 để kết nối các ứng dụng phần cứng lên đến 2 000 MHz.

Các thông số kỹ thuật bổ sung này cũng có thể áp dụng để thử nghiệm các đầu nối tần số thấp hơn liên quan. Tuy nhiên, phương pháp thử nghiệm quy định trong tiêu chuẩn kỹ thuật chi tiết cho bất kỳ đầu nối nhất định nào vẫn là thử nghiệm sự phù hợp chuẩn cho đầu nối đó.

Quy trình thử nghiệm của IEC 60512-27-100 bị ảnh hưởng bởi các phương pháp và quy trình bổ sung này là:

• mất chèn, thử nghiệm 27a;

• trả lại mất mát, kiểm tra 27b;

• kiểm tra nhiễu xuyên âm gần cuối (NEXT) 27c;

• nhiễu xuyên âm xa (FEXT), thử nghiệm 27d;

• Suy hao chuyển đổi ngang (TCL), thử nghiệm 27f;

• Suy hao chuyển đổi ngang (TCTL), thử 27g.

Các quy trình kiểm tra khác được tham chiếu ở đây là:

• trở kháng chuyển giao (ZT), xem quy trình thử nghiệm trong IEC 62153-4-6 hoặc IEC 62153-4-7.

• đối với suy hao khớp nối (aC), xem quy trình thử nghiệm trong IEC 62153-4-7 hoặc IEC 62153-4-12.