TIÊU CHUẨN IEC 63068-2

  1. Trang chủ
  2. Tiêu Chuẩn Quốc Tế
  3. TIÊU CHUẨN IEC 63068-2

International-Electrotechnical-Commission

Thông tin chi tiết sản phẩm:

  • Bản sửa đổi:

    Phiên bản đầu tiên, tháng 1 năm 2019

  • Ngày xuất bản:
    Tháng 1 năm 2019

  • Trạng thái:
    Hoạt động, Hiện tại nhất
  • Ngôn ngữ tài liệu:

    Tiếng Anh

  • Xuất bản bởi:

    Ủy ban kỹ thuật điện quốc tế (IEC)

  • Đếm trang:
    30
  • ANSI đã được phê duyệt:

    Không

  • DoD được thông qua:

    Không

Mô tả / Tóm tắt:

IEC 63068-2, Phiên bản đầu tiên, tháng 1 năm 2019 – Thiết bị bán dẫn – Tiêu chí nhận biết không phá hủy của các khuyết tật trong tấm wafer đồng trục silic cacbua dùng cho các thiết bị điện – Phần 2: Phương pháp kiểm tra khuyết tật bằng cách sử dụng kiểm tra quang học

Phần này của IEC 63068 đưa ra các định nghĩa và hướng dẫn sử dụng kiểm tra quang học để phát hiện các khuyết tật phát triển trong các tấm wafer hình chóp 4H-SiC (Silicon Carbide) có bán trên thị trường. Ngoài ra, tài liệu này minh họa các hình ảnh quang học để cho phép phát hiện và phân loại các khuyết tật cho các tấm wafer đồng trục SiC.

Tài liệu này đề cập đến phương pháp kiểm tra không phá hủy đối với các khuyết tật để các phương pháp phá hủy như khắc ưu tiên không nằm trong phạm vi áp dụng của tài liệu này.


Để mua tài liệu tiêu chuẩn quốc tế – IEC 63068-2, xin vui lòng đặt hàng trực tuyến hoặc gọi: Việt Nam: (+84) 0988359999 | +(84) 0904889859 |

CHI PHÍ: LIÊN HỆ

Website: https://isoquocte.com | hoặc email: isoquocte@gmail.com

Giá có thể thay đổi mà không cần thông báo. Sách điện tử (PDF) chỉ được cấp phép cho một người dùng truy cập.

dat mua ngay

TÌM KIẾM THÊM TIÊU CHUẨN

Bài viết liên quan

Chinese (Simplified)EnglishJapaneseKoreanRussianVietnamese